一、 服务内容
寿命加速测试 (Accelerated Life Testing, ALT) 是一种通过施加高于正常使用水平的环境或工作应力（如温度、湿度、电压、电流、振动、功率循环等），来加速产品潜在失效机制的显现，从而在较短时间内评估产品在正常使用条件下的预期寿命和可靠性的测试方法。本服务旨在快速识别产品的薄弱环节、预测使用寿命、验证设计裕量，并为可靠性改进提供依据。
二、 服务范围
本服务广泛适用于各类电子元器件、集成电路（IC）、模块、子系统乃至整机产品，特别是在需要保证长期可靠运行的领域，如汽车电子、通信设备、服务器、医疗器械、工业控制等。主要应用于产品研发阶段的设计验证、新材料/新工艺的可靠性评估、供应商元器件的选型比较以及产品可靠性寿命预测。
三、 参照标准
寿命加速测试的设计通常基于对产品失效物理的理解和特定的加速模型（如阿伦尼斯模型、艾林模型、逆幂律模型等）。虽然没有单一的通用ALT标准，但测试方案的设计和执行会参考相关的环境应力测试标准（如JEDEC, IEC, MIL-STD系列中关于温度、湿度、振动等的规范）以及可靠性工程理论。上海德垲将根据客户产品的具体应用和可靠性目标，设计科学合理的定制化加速测试方案。
四、 测试周期
寿命加速测试的周期高度依赖于所选择的应力类型、应力水平、目标加速因子、产品本身的耐受能力以及所需的统计置信度。测试可能包含多个应力组合或多个应力水平。因此，完整的测试项目周期可能从 数周到数月 不等。
五、 测试流程
- 明确测试目标: 定义正常使用条件、预期寿命要求和关注的失效模式。
- 选择加速应力: 根据潜在失效机理，选择最有效的加速应力（或组合）。
- 设计测试方案: 确定应力水平、样本量、测试时长/循环数、监测参数及失效判据。
- 初始状态表征: 对样品进行初始功能/性能测试和外观检查。
- 施加速应力: 在专业设备中按计划施加选定的加速应力。
- 过程监控与数据采集: 定期或连续监测样品状态，记录失效时间和失效模式。
- 数据分析与建模: 使用适当的统计分布（如威布尔分布）和加速模型分析数据。
- 寿命预测与评估: 推算产品在正常使用条件下的寿命分布和可靠性指标。
- 失效分析 (如需): 对失效样品进行深入分析，验证失效机理，指导改进。
六、 服务背景与价值
在快速迭代的产品开发周期中，传统的实时寿命测试往往耗时过长，无法满足市场需求。同时，对于需要长期可靠运行的产品，必须在上市前对其寿命有充分的评估。寿命加速测试通过科学地施加更高应力，能够在可接受的时间内获取产品的可靠性信息。因此，该测试的核心价值在于：显著缩短产品可靠性评估时间，实现早期失效预测与预防，量化评估产品寿命，为设计优化和工艺改进提供关键数据支持，降低潜在的保修成本和市场风险，提升客户对产品长期可靠性的信心。
七、 德垲优势
上海德垲在此领域具备显著优势。我们拥有全面的环境与应力测试设备（覆盖高温、低温、湿热、温度循环、功率循环、振动等），能够实施各种单一及复合应力加速测试。我们的核心优势在于经验丰富的可靠性工程团队，他们不仅精通各类加速模型和统计分析方法，更能深刻理解芯片及电子产品的失效物理，从而能够为客户量身定制最高效、最科学的加速测试方案。结合强大的ATE测试能力和失效分析(FA)平台，德垲提供从测试方案设计、应力施加、数据采集分析到失效机理研究和寿命预测的全流程服务，帮助客户准确评估并提升其产品的长期可靠性。
