一、 服务内容
模拟芯片测试是专门针对处理连续信号（如电压、电流）的集成电路（IC）进行的电气性能验证过程。与数字芯片测试关注逻辑状态（0/1）不同，模拟测试专注于精确测量器件的模拟性能参数，例如增益、带宽、线性度（INL/DNL）、噪声、失真（THD）、电源抑制比（PSRR）、共模抑制比（CMRR）、建立时间、功耗、转换精度等。本服务旨在通过施加精确的模拟激励信号并测量响应，验证芯片的各项模拟性能指标是否达到其设计规格书（Datasheet）的要求。
二、 服务范围
本服务适用于各类模拟及混合信号集成电路，包括：
- 运算放大器（Op-amps）
- 模数转换器（ADC）与数模转换器（DAC）
- 电压基准（Voltage References）
- 锁相环（PLL）与时钟电路
- 电源管理IC（PMIC），如 LDO, DC-DC 转换器
- 比较器（Comparators）
- 滤波器（Filters）
- 射频（RF）前端模块（如 LNA, Mixer, PA – 常归为混合信号测试）
- 传感器接口电路
测试贯穿芯片的特性描述（Characterization）、量产测试（ATE Production Test）和可靠性评估等阶段。
三、 参照标准
模拟芯片测试的核心参照依据是芯片的设计规格书（Datasheet），它详细定义了所有需要测试的模拟参数及其测试条件和合格范围。此外，可能参考：
- JEDEC 标准： 提供一些通用的测试概念和术语，但模拟测试方法高度依赖于具体器件类型。
- 特定应用标准： 如音频测试标准（针对 Codec）、通信接口标准中的模拟前端要求等。
- ATE 厂商提供的测试库和应用笔记。
四、 测试周期
模拟芯片测试的周期差异很大。一些基本的 DC 参数（如静态功耗、输出电压）在 ATE 上可能测试很快（毫秒级）。但复杂的 AC 参数、线性度、噪声、失真等测试通常需要更长的信号采集和处理时间，单项测试可能耗时 数十毫秒到数秒。因此，完整的模拟芯片 ATE 量产测试时间通常比纯数字芯片长，可能在 几秒到几十秒。全面的特性描述则需要 数天至数周。
五、 测试流程
- 规格解读与测试计划: 深入分析 Datasheet，确定关键模拟参数、测试条件、精度要求和合格范围。
- 测试程序开发: 利用 ATE 平台的精密模拟仪器（如任意波形发生器 AWG、高速数字化仪 Digitizer、精密电源、频谱分析仪等），编写测试算法和程序。
- 硬件设计与验证: 设计对信号完整性要求极高的测试接口板（Load Board），注意屏蔽、接地、滤波和阻抗匹配。
- 测试执行: 在精确控制的条件下，施加模拟激励信号，采集芯片的输出响应。
- 数据处理与分析: 对采集到的波形或数据进行复杂的数学运算（如 FFT、积分、拟合），提取所需的模拟参数。
- 结果比对与判定: 将计算得到的参数值与 Datasheet 规格比较，判定 Pass/Fail 或进行性能分级。
- 报告生成: 汇总测试结果、参数分布、统计数据等，形成报告。
六、 服务背景与价值
模拟电路是连接数字世界与真实物理世界的桥梁，负责信号的放大、滤波、转换等关键任务。其性能的优劣直接影响整个电子系统的精度、信噪比、功耗和稳定性。模拟芯片的设计和制造对工艺变化更为敏感，性能参数的精确验证至关重要。因此，模拟芯片测试的核心价值在于：确保芯片能够准确、可靠地处理现实世界中的连续信号；验证产品的性能是否达到高端应用（如精密测量、高质量音视频、稳定电源）的要求；保证批次产品的一致性；发现可能影响系统整体性能的细微参数偏差；是确保模拟和混合信号芯片质量与竞争力的关键环节。
七、 德垲优势
上海德垲在此领域具备显著优势。我们拥有一支精通模拟电路测试技术的工程师团队，深刻理解各类模拟器件的工作原理和关键测试难点。我们配备了搭载高性能模拟和混合信号测试仪器（如高精度源表、高速数字化仪、低噪声电源、RF 模块等）的先进 ATE 测试平台，能够满足苛刻的模拟参数测试要求。我们具备开发复杂模拟测试算法和设计高质量模拟测试硬件（Load Board）的能力，尤其注重信号路径的优化和噪声抑制。结合我们的失效分析（FA）能力，我们可以为模拟芯片的参数失效提供深入的根因分析。德垲致力于为客户提供精确、可靠、高效的模拟及混合信号芯片测试解决方案。
