一、 服务内容
定制化测试方案是上海德垲根据客户的特定需求、芯片的独特特性或面临的专门挑战，而量身设计、整合和优化的测试策略与执行计划。它不是采用标准化的测试流程，而是深入分析客户的具体目标（如解决特定失效模式、满足特殊应用环境要求、优化成本与覆盖率的平衡、验证创新设计等），灵活选择、组合甚至改进各种测试手段（包括功能、参数、可靠性、物理分析、材料分析等），形成一个高度针对性的综合测试解决方案。
二、 服务范围
本服务特别适用于以下情况的客户：
- 开发全新或非标芯片： 标准测试不足以全面评估其特性。
- 产品应用于特殊或严苛环境： 需要设计特定的应力测试或性能验证。
- 遭遇疑难的良率或可靠性问题： 需要整合多种分析手段进行深度诊断。
- 需要在成本、时间和测试覆盖率之间寻求特定平衡点。
- 需要跨领域测试能力的整合： 例如结合ATE测试、可靠性验证和失效分析。
- 希望获得超越常规标准的、更深层次的器件理解或质量保证。
三、 参照标准
定制化测试方案的设计虽然以满足特定需求为核心，但其包含的各个测试项目的执行仍然严格遵循相关的基础：
- 客户明确的需求规格和目标： 这是定制化的首要依据。
- 芯片设计规格书（Datasheet）及应用背景。
- 相关的行业标准（JEDEC, AEC, MIL-STD 等）： 作为选择测试方法、设定基础条件和评估结果的参考。
- 可靠性工程与失效物理知识： 用于指导测试项目选择和应力条件设定。
- 上海德垲内部验证过的最佳实践和技术诀窍。
四、 方案设计周期
由于涉及深入的需求分析、技术评估和方案创新，定制化测试方案的设计周期通常比标准测试方案长。根据需求的复杂度和所需整合的技术范围，可能需要 数周至数月 时间完成方案的详细设计、论证和评审确认。
五、 设计流程
- 深度需求访谈: 与客户团队（设计、工艺、产品、质量等）充分沟通，精准把握痛点、目标和约束条件。
- 技术可行性分析: 评估现有测试技术和设备是否能满足需求，或是否需要开发新的测试方法。
- 风险评估与关键点识别: 分析潜在的失效模式和测试难点。
- 测试策略与项目选择: 确定最优的测试流程和项目组合，可能包含标准测试的修改、非标测试的设计或多种技术的联动。
- 详细测试条件与判据制定: 定义具体的应力水平、参数限值、样本量、测试时长和通过/失败标准。
- 硬件与软件需求规划: 明确所需的ATE配置、仪器仪表、定制化板卡或软件工具。
- 方案文档化与评审: 编写详细的定制化测试方案文档，与客户共同评审，确保方案的科学性、可行性和经济性。
六、 服务背景与价值
面对日益多样化和复杂化的芯片产品及其应用场景，标准化的“一刀切”测试方案往往难以满足所有需求。可能导致测试不足（遗漏风险）或测试过度（成本浪费），也可能无法有效解决客户面临的特定技术难题。因此，定制化测试方案的核心价值在于：提供“对症下药”式的精准测试服务，最大化地解决客户的特定问题；通过优化测试组合和流程，实现测试资源（时间、成本、设备）的最高效利用；能够应对创新设计和特殊应用的独特测试挑战；为客户提供超越常规测试的深度见解和增值服务，是解决复杂测试需求的最佳途径。
七、 德垲优势
上海德垲在提供定制化测试方案方面拥有核心竞争力。我们最大的优势在于拥有覆盖芯片测试全链条的四大核心业务（可靠性测试设备与服务、测试开发与运营、ATE设备支持、技术培训）和相应的专业团队（FA, PA, 可靠性, ATE开发），这使我们具备了整合不同领域技术、提供真正“一站式”定制化解决方案的独特能力。我们不仅能执行测试，更能基于对芯片设计、工艺、失效物理和各种测试技术的深刻理解，为客户“量体裁衣”设计方案。我们采取顾问式的合作模式，与客户共同分析问题、探索方案，致力于提供最具价值和实效的定制化测试服务。
