一、 服务内容
电性参数测试（也称电气参数测试）是精确测量集成电路（IC）的各项关键电压、电流、功耗等电气特性指标，并与芯片设计规格书（Datasheet）中定义的参数范围进行比较的过程。本服务旨在量化评估芯片的实际性能表现，验证其是否符合设计目标，确保其在规定的工作条件下的稳定性和一致性。测试内容通常涵盖直流（DC）参数（如各种工作模式下的电流消耗、输入/输出逻辑电平、漏电流、电阻等）和交流（AC）参数（如时序参数、频率特性等）。
二、 服务范围
本服务适用于所有类型的集成电路，是评估芯片质量的基础环节。覆盖数字、模拟、混合信号、电源管理（PMIC）、射频（RF）等各类芯片。关键应用阶段包括：
- 芯片特性描述（Characterization）： 全面测量器件在不同条件（PVT）下的参数表现。
- 量产测试（ATE Production Test）： 快速筛选合格芯片，进行性能分级（Binning）。
- 可靠性测试前后评估： 监控应力测试对器件参数的影响。
- 来料检验（IQC）： 验证供应商器件关键参数的符合性。
三、 参照标准
电性参数测试的核心参照依据是芯片的设计规格书（Datasheet），其中详细定义了各项电性参数的测试条件和合格范围。同时也会参考：
- JEDEC 等行业标准中关于测试方法和术语的定义。
- ATE 平台提供的精密测量库和应用规范。
四、 测试周期
在自动化测试设备（ATE）上，针对关键电性参数的量产测试通常非常快速，单个芯片可能只需 几毫秒到几秒钟。而全面的芯片特性描述，需要覆盖多种工作条件和大量参数，则可能需要 数天至数周 的测试与分析时间。
五、 测试流程
- 规格解读与测试计划: 明确需要测量的电压、电流、功耗等关键参数、测试条件及合格标准。
- 测试程序开发: 编写ATE程序，调用精密电源（DPS）、电压/电流测量单元（VI, SMU）等仪器执行测量。
- 硬件准备与校准: 准备测试接口板（Load Board/DIB），确保测试仪器精度符合要求。
- 测试执行: 在指定条件下为芯片供电，施加必要的输入信号，精确测量相应的电压、电流值。
- 结果比对与判定: 将测量值与Datasheet规格比较，判定Pass/Fail或进行性能分级。
- 数据记录与分析: 记录参数数据，进行良率统计和参数分布分析。
- 出具报告: 汇总测试结果、统计信息及结论。
六、 服务背景与价值
芯片的功能正确是基础，但其电压、电流、功耗等关键电性参数必须精确符合规格，才能保证在最终系统中的正常工作、低功耗运行和整体稳定性。工艺波动或设计裕量不足都可能导致参数偏离。因此，进行电性参数测试的核心价值在于：量化验证芯片性能是否达标，确保产品质量一致性；为低功耗设计、电源预算等提供依据；筛选出不合格品，提高产品可靠性；是保障芯片满足最终应用需求的关键环节。
七、 德垲优势
上海德垲在此领域具备显著优势。我们拥有经验丰富的测试工程师团队，精通各类芯片电性参数的测试原理和方法。我们配备了先进的ATE测试平台和高精度的测试仪器（如精密源测量单元SMU），能够准确测量微弱的漏电流、精确控制电压和电流，并有效评估功耗。我们具备高效开发测试程序和优化测试流程的能力。结合失效分析能力，我们能为参数异常问题提供深入的根因探索。德垲致力于为客户提供精准、可靠的芯片电性参数测试服务。
