芯片失效分析

案例研究：德垲如何通过失效分析助某客户提升芯片良率？

本文通过一个真实案例，展示了上海德垲检测如何利用其专业的芯片失效分析能力，帮助一家领先的半导体设计公司快速定位其核心XX类型芯片的良率瓶颈，并提出有效改进建议，最终实现量产良率的大幅提升，加速了产品上市进程。

2025年4月25日 典型案例

手机芯片为什么会坏？常见手机CPU/GPU失效案例分析

本文聚焦手机核心处理器（CPU）与图形处理器（GPU）的常见失效问题，如过热、功能异常等。通过解析德垲检测的专业分析流程与案例经验，深入探讨这些失效模式背后的设计、制造及应用层面的根本原因，为业界提供参考。

2025年4月24日 典型案例

芯片失效分析技术路线图

系统解读芯片失效分析(FA)技术路线：从无损检测到物理分析，掌握定位失效根本原因的流程、常用方法、关键工具及典型案例。

2025年4月21日 技术文章

芯片故障分析

提供专业的芯片故障分析(FA)服务。利用先进设备和技术，定位芯片失效根本原因，涵盖电学、物理及化学分析，助力良率提升与质量改进。

2025年4月2日 芯片失效分析